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          產(chǎn)品展示
          • TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
            TOF-qSIMS飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用,包括聚合物,藥物,超導體,半導體,合金,光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì),檢測限低于1ppm。
            時(shí)間:2023-11-22型號:TOF-qSIMS瀏覽量:9289
          • EQS二次離子質(zhì)譜儀
            離子分析質(zhì)譜儀/飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀可分析來(lái)自固體樣品的二次陰、陽(yáng)離子和中性粒子。采用技術(shù)的SIMS 探針,便于連結到現有的UHV表面科學(xué)研究反應室。
            時(shí)間:2023-11-22型號:EQS瀏覽量:5182
          • SIMS Workstation二次離子質(zhì)譜儀
            二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描,自動(dòng)測量正、負和中性粒子。
            時(shí)間:2023-11-22型號:SIMS Workstation瀏覽量:2577
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